作者： 张卫民，王克勇，王信义 （北京理工大学机械工程学院）

出处： 北京理工大学学报 1997 第4期 P92-96

关键词： 灰色系统；灰色关联度分析；故障诊断；特征向量

摘要： 讨论了灰色关联度分析法在全封闭小型压缩机状态检测中应用的有关问题；提出了灰色关联度法在多参数故障诊断中应用时特征参数的选择及处理方法．通过压缩机诊断实例说明了灰色关联度法的使用效果，并在与其它诊断方法比较的基础上，总结了灰色关联度法的特点．

作者： 伍清河 （北京理工大学自动控制系）

出处： 北京理工大学学报 1997 第3期 P364-368

关键词： 多项式族；鲁棒HURWITZ稳定性；稳定性半径；根轨迹法

摘要： 讨论了Ｈｕｒｗｉｔｚ多项式稳定性半径的计算问题，这里所说的稳定性半径是相对于多项式系数中的Ｈｏｌｄｅｒｐ－范数有界不确定性而言。在一般情况下，稳定性半径的计算需要求某些函数的极小值，从而无法得到封闭解，本文借助于根轨迹法对这些函数进行了分析和证明。在某些特殊情况下，这些函数的极小值只可能在某些可以事 ...

作者： 庞长富，魏光辉 （北京理工大学光电工程系）

出处： 北京理工大学学报 1997 第1期 P71-75

关键词： 光束质量；测量；随机误差

摘要： 以激光束矩量分析理论及光束质量因子的概念为基础，运用数理统计手段，导出了分析随机误差对测量精度影响的具体方法。将此方法实际应用于一假定激光束，通过计算机模拟仿真，得到了具体数据。结果表明，随机误差和噪声对激光束测量精度的影响不显著，在实际测量中，不应对测量系统的随机误差和噪声性能提出过高的要求。

作者： 吴祥法，聂毓琴，刘寒冰 （北京理工大学；吉林工业大学）

出处： 吉林工业大学学报 1997 第27卷 第4期 P48-53

关键词： 有限位移；弹性力学；分区广义变分

摘要： 讨论了有限位移弹性体分区广义变分原理的三种形式（分区势能、分区余能、分区混合），给出了它们之间的相互关系，推广了文献〔１〕、〔２〕的工作。最后给出了一般的分区变分原理，各种有限元模型可看作是这个原理的特殊应用。

作者： 侯朝桢，凌云，金玫 （北京理工大学自动控制系）

出处： 北京理工大学学报 1997 第3期 P384-387

关键词： 故障诊断；分布式计算机；故障自修复；火控设备

摘要： 针对火控系统的高可靠性要求，对多机分布式火控设备的故障诊断与自修复技术进行了研究，分析了系统的硬件结构与冗余设计，给出了故障检测诊断及故障自修复的设计方法和软件流程图，说明了试验调试的样机演示结果，最后给出了主要结论

作者： 徐可斌，姜文利，柯有安 （北京理工大学电子工程系）

出处： 北京理工大学学报 1997 第6期 P70-74

关键词： 图像压缩；小波变换；视觉特性；矢量量化

摘要： 从人眼视觉特性的角度研究基于小波变换的图像压缩算法．分析了图像经小波变换后得到的子带图像的视觉特性和统计特性，对传统的矢量量化算法给予了改进，提出了一种基于小波变换、符合人眼视觉特性的矢量量化－－－Ｗａｌｓｈ－Ｈａｄａｍａｒｄ变换域下的矢量量化（ＷＨＴ－ＶＱ）算法．设计多分辨率码书，为不同分辨率下、 ...

作者： 王伯羲 （北京理工大学化工与材料学院）

出处： 北京理工大学学报 1997 第1期 P101-107

关键词： 超高燃速推进剂(UHBR)；对流燃烧；燃烧模型；微孔参数

摘要： 分析了超高燃速推进剂（ＵＨＢＲ）的压力敏感性，提出了一种降低超高燃速推进剂压力敏感性的物理方法，即通过估算，以不同密度和不同孔结构参数的多段药片组合成ＵＨＢＲ药柱。实验证明理论估算与实测ｐ～ｕ关系，在规律上非常一致。证实用这种方法可以降低ＵＨＢＲ燃烧过程的表观压力指数。

作者： 邹健，邵彬，邢修三 （北京理工大学应用物理系）

出处： 物理学报 1997 第46卷 第11期 P2233-2241

关键词： 相干态；超流；双模；介观约瑟夫森结；光场辐照

摘要： 研究了直流偏置电压下介观约瑟夫森结在ＳＵ（１，１）双模相干态光场作用下超流的动力学行为、流压台阶和直流分量等特性．研究发现超流能够呈现明显的崩塌与复苏现象，对于经典电磁场和非耦合的双模相干态光场作用下的情况，超流不出现此现象，且其流压台阶结构与后两种情况也不相同．

作者： 李玉铭，李山东，林鸿溢 （哈尔滨理工大学；北京理工大学电子工程系）

出处： 物理化学学报 1997 第11期 P1052-1057

关键词： 半导体材料；纳米半导体；量子功能器件

摘要： 纳米半导体硅（nc-Si：H）薄膜是利用等离子体增强化学气相淀积（PECVD）方法制备的，制备条件可以很好地进行调节控制。纳米硅薄膜由两种组元组成：纳米尺度晶粒组元和晶粒间的界面组无，即晶态相和晶界相组成.这对发展半导体器件，例如量子功能器件和薄膜敏感器件等是特别有价值的。

作者： 崔芳，张思炯，王涌天，孙雨南，周胜利，张宇锋 （北京理工大学光电工程系；北京理工大学光电工程系；北京理工大学光电工程系；北京理工大学光电工程系；航天工业总公司第508所；航天工业总公司第508所）

出处： 光子学报 1997 第26卷 第A1期 P295

关键词： 衍射光学元件；二元化学；离子束刻蚀