郝群
发明人: 陈梦璐,郝群,王姗姗
申请人: 北京理工大学
申请号: 202410285002.3
申请日期: 2024.03.13
摘要: 一种原位生长钙钛矿量子点薄膜及其制备方法和在荧光无损检测中的应用。本发明属于钙钛矿量子点薄膜领域。本发明的目的是为了解决现有钙钛矿量子点薄膜稳定性差、均匀性低和灵敏度不高的技术问题。本发明的钙钛矿量子点薄膜由CsPbBr
发明人: 程阳,郝群,乔志博,魏佳乐,张紫童
申请人: 北京理工大学
申请号: 202410582846.4
申请日期: 2024.05.11
摘要: 本发明公开了一种多孔径阵列式液体变焦成像装置,包括:液体透镜阵列,其中所述液体透镜阵列为多个液体透镜按照以圆心对称分层排列,每层液体透镜的焦距不相同;中继透镜组,用于对所述液体透镜阵列完成一次像面成像后进行变倍补偿;平面图像传感器,用于所述中继透镜组的中继液体透镜改变焦距后进行成像;高压驱动电路,用 ...
发明人: 郝群,乔志博,程阳,姚灿灿,欧阳琦
申请人: 北京理工大学
申请号: 202410413188.6
申请日期: 2024.04.08
摘要: 本发明属于摄像技术领域。公开一种Alvarez变焦透镜驱动机构及驱动装置,包括:外壳;旋转盘,连接在外壳内,且被配置为可相对外壳旋转,旋转盘上开设有一对弧形槽,弧形槽的两端部靠近旋转盘中心的距离不同;以及,第一透镜单元和第二透镜单元,分别与外壳限位滑动配合;其中,第一透镜单元的伸出端和第二透镜单元的 ...
发明人: 胡摇,李冠霖,郝群
申请人: 北京理工大学
申请号: 202410052329.6
申请日期: 2024.01.15
摘要: 本发明公开剪切散斑干涉的材料近表面缺陷动态检测方法及装置,依次通过制作时序仿真数据集、搭建模型、模型训练、模型测试的步骤,使用剪切散斑干涉相位差图时间序列作为缺陷检测对象,能在动态加载的情况下充分利用时间维度信息,更有利材料近表面缺陷检测,相较单帧检测更具鲁棒性;在训练时序目标检测模型时完全使用有限 ...
发明人: 郝群,刘林,程阳,曹杰,邢浩月
申请人: 北京理工大学
申请号: 202410482136.4
申请日期: 2024.04.22
摘要: 本发明涉及一种基于LC‑SLM的变焦稳像光学系统,包括沿第一光轴分布的第一透镜组和第一LC‑SLM以及沿第二光轴分布的第二LC‑SLM、第二透镜组以及成像装置,第一光轴平行于第二光轴;其中,运动目标能够沿第一光轴发出出射光线至第一LC‑SLM,经第一LC‑SLM反射至第二LC‑SLM后,沿第二光轴入 ...
发明人: 郝群,董欣宇,胡摇,黄勇
申请人: 北京理工大学
申请号: 202410235550.5
申请日期: 2024.03.01
摘要: 分析缺陷衍射环的表面缺陷纵向尺寸测量方法及系统,仅借助缺陷周围的衍射环就完成光学元件表面缺陷的纵向尺寸测量,可以实现快速、准确的全场一体化测量。方法包括:(1)调节干涉仪和位移台,使得干涉仪聚焦于待测元件表面,标定此时待测元件的轴向位置为初始位置;(2)设定位移台的步长和行程;(3)去除其携带的强度 ...
发明人: 王炫权,张韶辉,郝群
申请人: 北京理工大学长三角研究院(嘉兴),北京理工大学
申请号: 202410264943.9
申请日期: 2024.03.08
摘要: 本发明涉及一种三维成像系统点云空洞补全系统及方法,属于点云空洞补全技术领域。首先获取不同积分时间下同视场的点云数据、彩色图像以及强度数据,识别和标记出点云数据中的空洞区域及边界;其次使用彩色图像特征获取深度数据的空间分布,精确对齐彩色图像中的视觉特征和点云数据中空洞的相应空间位置;最后,获取不同积分 ...
发明人: 曹杰,史牟丹,徐辰宇,周畅,夏悦然,郝群
申请人: 北京理工大学,北京理工大学长三角研究院(嘉兴)
申请号: 202410318976.7
申请日期: 2024.03.20
摘要: 本发明公开了一种自适应运动补偿的鬼成像方法,包括:获取物体运动图像;对物体运动图像进行全局二值化处理,识别运动物体;根据运动物体,获取运动物体每一帧的质心坐标,并获取运动物体移动距离;基于运动物体移动距离对散斑图像进行运动补偿,获取移动后的散斑图像,其中,散斑图像与运动物体保持相对静止;投射移动后的 ...
发明人: 曹杰,崔焕,郝群,周畅,张镐宇,史牟丹
申请人: 北京理工大学
申请号: 202410596451.X
申请日期: 2024.05.14
摘要: 本发明公开了一种基于旋转细分的全景关联成像方法及系统,属于光电成像技术领域。方法包括:S1、基于系统硬件参数,确定细分因子,并基于所述细分因子得到单张调制散斑投影时间以及采样频率;S2、生成调制散斑序列,获取每张调制散斑在投影时间内的细分视场;并基于所述采样频率获取所述细分视场的光强测量值;S3、将 ...
发明人: 郝群,胡摇,董欣宇,黄勇
申请人: 北京理工大学
申请号: 202410235705.5
申请日期: 2024.03.01
摘要: 本发明公开光学元件表面缺陷全场识别与定位方法及系统,通过面形测量干涉仪和平移台采集多帧干涉图,利用差分方法去除其中的相同部分,利用去低频方法分离出其中的低频部分,重构多帧干涉图,分离出多帧干涉图强度信息中由表面缺陷引起的闭合同心环状特征,利用目标识别方法识别闭合同心环状特征,实现对表面缺陷的全场识别 ...